自動化不銹鋼管漏磁檢測中，單點測量單元很難滿足檢測的要求，必須采用陣列檢測探頭，由多個單點測量單元按一定的規律排列，并將各單元檢測信號實施疊加或差動組合而成。
陣(zhen)列檢(jian)測(ce)探頭(tou)(tou)是(shi)(shi)磁(ci)(ci)場傳(chuan)感器(qi)的(de)(de)載體和組合，是(shi)(shi)漏(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)測(ce)信號的(de)(de)收(shou)集器(qi)。隨著漏(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)測(ce)應用的(de)(de)不斷深(shen)入(ru)和檢(jian)測(ce)要求的(de)(de)逐步提高(gao)，除了磁(ci)(ci)化問題，另(ling)一個(ge)核心就是(shi)(shi)漏(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)測(ce)探頭(tou)(tou)的(de)(de)設計。若探頭(tou)(tou)性能不好或(huo)者(zhe)(zhe)不合適，則(ze)會出現漏(lou)判或(huo)者(zhe)(zhe)誤判，嚴重影響漏(lou)磁(ci)(ci)檢(jian)測(ce)的(de)(de)可靠性。
另一方面，沒有一種探(tan)頭(tou)(tou)是(shi)萬能的(de)。由(you)于自然缺陷的(de)形(xing)態千變萬化，檢測探(tan)頭(tou)(tou)必然存在(zai)局限性(xing)，漏判或誤判的(de)情(qing)況在(zai)檢測實踐中時有發生。下面對檢測探(tan)頭(tou)(tou)的(de)內部結(jie)構(gou)和(he)檢測特性(xing)進行分析。
一(yi)、漏磁檢(jian)測(ce)探頭(tou)的結構形式
目前，最具代表性的(de)(de)(de)不銹鋼管漏磁檢(jian)(jian)測(ce)(ce)傳(chuan)感器有兩種(zhong)：霍(huo)爾元件(jian)和感應線(xian)圈，尤(you)其是集成霍(huo)爾元件(jian)和光(guang)刻平面線(xian)圈。為了獲得較高的(de)(de)(de)磁場測(ce)(ce)量空間分辨力和相(xiang)對寬廣的(de)(de)(de)掃查范圍，檢(jian)(jian)測(ce)(ce)探頭芯結構(gou)有多種(zhong)形式。
1. 點(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)檢(jian)測(ce)形式 在(zai)檢(jian)測(ce)探頭中，對某(mou)一(yi)點(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)上或微小區域的漏磁場測(ce)量，并且每個測(ce)點(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)對應(ying)于(yu)一(yi)個獨立的信號通道(dao)，如圖3-6a所示，以下簡(jian)稱為點(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)檢(jian)探頭。很明顯，點(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)檢(jian)探頭中每個點(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)能夠(gou)掃查的檢(jian)測(ce)范(fan)圍(wei)很小，但空間分辨(bian)力高(gao)，如單個霍爾元件的敏感(gan)面積(ji)只有(you)0.2×0.2m㎡，點(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)檢(jian)用檢(jian)測(ce)線圈(quan)也可做到(dao)φ1mm內。
2. 線(xian)檢測(ce)(ce)形式(shi) 在檢測(ce)(ce)探頭中，對一(yi)條(tiao)線(xian)上的(de)(de)漏磁(ci)場(chang)進行綜合(he)測(ce)(ce)量，如(ru)圖3-6b所(suo)示，以下簡稱為線(xian)檢探頭。例如(ru)，用(yong)(yong)感(gan)應線(xian)圈檢測(ce)(ce)時，將線(xian)圈做成(cheng)條(tiao)狀，則它感(gan)應的(de)(de)是線(xian)圈掃(sao)查(cha)路(lu)徑對應空間(jian)范圍內的(de)(de)漏磁(ci)通的(de)(de)變化。用(yong)(yong)霍(huo)爾元件檢測(ce)(ce)時，采用(yong)(yong)線(xian)陣排列，將多個(ge)元件檢測(ce)(ce)信(xin)號(hao)用(yong)(yong)加(jia)法器疊加(jia)后輸出單個(ge)通道信(xin)號(hao)，則該信(xin)號(hao)反映(ying)的(de)(de)是霍(huo)爾元件線(xian)陣長度內的(de)(de)磁(ci)感(gan)應強度的(de)(de)平均值。
在(zai)漏磁檢測(ce)中(zhong)，上述(shu)兩(liang)種形(xing)式(shi)是最基(ji)本的形(xing)式(shi)，由此(ci)可以(yi)組合成多種形(xing)式(shi)的探頭(tou)，如圖(tu)3-6c所示的平面內的面陣(zhen)列(lie)探頭(tou)，以(yi)及圖(tu)3-6d所示的多個平面上的立體陣(zhen)列(lie)探頭(tou)。
二、漏磁檢測(ce)探頭的檢測(ce)特性
1. 缺陷類(lei)型
不銹(xiu)鋼管在進行漏磁檢測方法和(he)設備的(de)考(kao)核時，常采(cai)用機加工或電火(huo)花方式刻制標準人工缺(que)陷，自然(ran)缺(que)陷可表達成(cheng)它們的(de)組合形式。為便于(yu)分(fen)析和(he)精確評估，將標準缺(que)陷分(fen)成(cheng)下列三類(lei)。
（1）點(dian)狀缺(que)(que)陷 點(dian)狀缺(que)(que)陷的(de)(de)(de)面積(ji)小，集中在一點(dian)或(huo)小圈內，如標準缺(que)(que)陷里的(de)(de)(de)通孔，自(zi)然缺(que)(que)陷里的(de)(de)(de)蝕(shi)坑、斑點(dian)、氣孔等，它(ta)們產生的(de)(de)(de)漏磁場是一個(ge)集中的(de)(de)(de)點(dian)團狀場，分布范圍小。
（2）線(xian)狀缺(que)陷(xian) 線(xian)狀缺(que)陷(xian)的(de)(de)寬長比很小，形(xing)成(cheng)一(yi)條線(xian)，如標準缺(que)陷(xian)里(li)的(de)(de)矩形(xing)刻(ke)槽、自然缺(que)陷(xian)里(li)的(de)(de)裂(lie)紋等，它們產生(sheng)的(de)(de)漏磁場(chang)是沿(yan)線(xian)條的(de)(de)帶狀場(chang)。
（3）體(ti)狀(zhuang)缺陷 體(ti)狀(zhuang)缺陷的長、寬、深(shen)尺寸均(jun)較大，形成坑或(huo)窩，如標準缺陷中的大不通孔(kong)、自然(ran)缺陷里的片狀(zhuang)腐(fu)蝕等(deng)，它們產生的漏磁場分布范(fan)圍廣(guang)。
2. 不同結構探頭(tou)的(de)檢測(ce)特性
不銹鋼管在漏磁(ci)檢(jian)測(ce)(ce)中(zhong)，特別要強調(diao)空(kong)間和(he)方(fang)向的(de)概(gai)念。因為(wei)，漏磁(ci)場(chang)是(shi)空(kong)間場(chang)，且(qie)具(ju)有(you)方(fang)向性；漏磁(ci)檢(jian)測(ce)(ce)信(xin)號是(shi)時間域(yu)的(de)，且(qie)沒有(you)相位信(xin)息；不僅檢(jian)測(ce)(ce)探(tan)(tan)頭具(ju)有(you)敏(min)感(gan)方(fang)向，而且(qie)檢(jian)測(ce)(ce)探(tan)(tan)頭的(de)掃查(cha)路徑也具(ju)有(you)方(fang)向性，不同方(fang)向均會對(dui)檢(jian)測(ce)(ce)信(xin)號及其(qi)特征(zheng)產生影響(xiang)。
另(ling)一(yi)方(fang)面，應該特別注意(yi)缺陷(xian)漏(lou)磁場(chang)的(de)(de)表(biao)征形(xing)式，在這(zhe)里，漏(lou)磁場(chang)強(qiang)度(du)和漏(lou)磁場(chang)梯度(du)存在著(zhu)本(ben)質的(de)(de)不(bu)同。霍(huo)爾元件和感(gan)應線圈兩(liang)種器件的(de)(de)應用也有著(zhu)根本(ben)的(de)(de)區別。霍(huo)爾元件可以測(ce)量(liang)(liang)空(kong)間某(mou)點上的(de)(de)磁場(chang)強(qiang)度(du)，而感(gan)應線圈卻無法(fa)實(shi)現；感(gan)應線圈感(gan)應的(de)(de)是(shi)空(kong)間一(yi)定(ding)范圍內的(de)(de)磁通量(liang)(liang)的(de)(de)變化程(cheng)度(du)，相反，霍(huo)爾元件不(bu)可以測(ce)量(liang)(liang)磁通量(liang)(liang)的(de)(de)變化，它測(ce)量(liang)(liang)的(de)(de)是(shi)一(yi)定(ding)空(kong)間范圍內的(de)(de)磁感(gan)應強(qiang)度(du)的(de)(de)平均值(zhi)。
下面將逐一分析(xi)兩(liang)種基本(ben)探(tan)頭形式對(dui)不同(tong)類(lei)型缺陷的檢測信號特性(xing)。
a. 點檢探頭的(de)信號特性
點檢(jian)(jian)(jian)探頭(tou)測(ce)量的(de)(de)(de)是(shi)空間某點上的(de)(de)(de)漏磁感應強度或(huo)磁通量的(de)(de)(de)變化(hua)。點檢(jian)(jian)(jian)探頭(tou)對(dui)(dui)(dui)點狀(zhuang)缺陷的(de)(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)是(shi)“針尖(jian)(jian)對(dui)(dui)(dui)麥芒”，空間相對(dui)(dui)(dui)位置的(de)(de)(de)微小(xiao)變化(hua)，均(jun)有可能引起檢(jian)(jian)(jian)測(ce)信(xin)號(hao)幅度的(de)(de)(de)波動。點狀(zhuang)缺陷的(de)(de)(de)漏磁場分布是(shi)尖(jian)(jian)峰狀(zhuang)的(de)(de)(de)，當點檢(jian)(jian)(jian)探頭(tou)正對(dui)(dui)(dui)峰頂時(shi)，信(xin)號(hao)幅度最大，偏(pian)離(li)時(shi)信(xin)號(hao)幅度將急劇下(xia)降。因此，用點檢(jian)(jian)(jian)探頭(tou)去檢(jian)(jian)(jian)測(ce)點狀(zhuang)缺陷時(shi)將會產生不穩定的(de)(de)(de)信(xin)號(hao)，導致誤判(pan)或(huo)漏判(pan)。進行(xing)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)設備標定時(shi)，也(ye)難將各(ge)通道的(de)(de)(de)靈敏(min)度調整到(dao)一致。
點檢(jian)探頭(tou)檢(jian)測線狀(zhuang)缺陷(xian)時(shi)，很容(rong)易掃查到線狀(zhuang)缺陷(xian)產生的“山脈”狀(zhuang)漏磁場的某一個(ge)縱斷(duan)面，檢(jian)測信號(hao)幅度(du)將正比于線狀(zhuang)缺陷(xian)的深度(du)。當線狀(zhuang)缺陷(xian)長(chang)度(du)大(da)于一定值(zhi)時(shi)，設備標(biao)定或(huo)檢(jian)測信號(hao)的一致(zhi)性(xing)(xing)和穩定性(xing)(xing)均(jun)較好。
b. 線檢探(tan)頭的信號特性(xing)
線(xian)檢探頭(tou)測量的(de)(de)(de)(de)(de)(de)是探頭(tou)長度(du)范圍(wei)內的(de)(de)(de)(de)(de)(de)平均(jun)磁感應強度(du)或磁通量的(de)(de)(de)(de)(de)(de)變化。與點檢探頭(tou)相比(bi)，線(xian)檢探頭(tou)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)輸出信號特性不但與缺(que)(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)深度(du)有(you)關(guan)，而(er)且與缺(que)(que)陷(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)長度(du)有(you)關(guan)，最終與缺(que)(que)陷(xian)缺(que)(que)失(shi)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)截(jie)面積成比(bi)例。這類探頭(tou)不能直接獲得與缺(que)(que)陷(xian)深度(du)相關(guan)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)信息(xi)，因為長而(er)淺(qian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)缺(que)(que)陷(xian)與短而(er)深的(de)(de)(de)(de)(de)(de)缺(que)(que)陷(xian)在檢測信號幅度(du)上有(you)可能是一樣(yang)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)。
線(xian)檢(jian)(jian)(jian)探頭(tou)對(dui)點(dian)(dian)狀(zhuang)缺陷(xian)的檢(jian)(jian)(jian)測(ce)是“滴水不漏”。由于線(xian)檢(jian)(jian)(jian)探頭(tou)的長度遠大于點(dian)(dian)狀(zhuang)缺陷(xian)的長度，在檢(jian)(jian)(jian)測(ce)路徑上，缺陷(xian)相對(dui)于探頭(tou)位(wei)置(zhi)變化時(shi)，不會影響檢(jian)(jian)(jian)測(ce)信號的幅度，因而一致性較好(hao)。
線檢(jian)探頭檢(jian)測線狀缺陷(xian)時，情況(kuang)較(jiao)為復雜，探頭與缺陷(xian)的長度(du)比(bi)以及位置(zhi)關系(xi)均會影響信號(hao)幅值。下(xia)面舉例分(fen)析。
如圖3-7a所示，用有效長度為25mm的(de)(de)線檢(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)頭(tou)(tou)檢(jian)(jian)(jian)測25mm長的(de)(de)刻(ke)槽(cao)。當探(tan)(tan)頭(tou)(tou)正對(dui)刻(ke)槽(cao)時(shi)，獲(huo)得(de)(de)最(zui)大的(de)(de)信(xin)號(hao)幅(fu)值；當探(tan)(tan)頭(tou)(tou)與刻(ke)槽(cao)的(de)(de)位(wei)置錯開(kai)時(shi)，信(xin)號(hao)幅(fu)值將隨著探(tan)(tan)頭(tou)(tou)與缺(que)陷(xian)交(jiao)叉重疊程度的(de)(de)減小而減弱，此種狀(zhuang)態(tai)對(dui)檢(jian)(jian)(jian)測是(shi)不(bu)利的(de)(de)，不(bu)論(lun)是(shi)設備標定還(huan)是(shi)檢(jian)(jian)(jian)測應(ying)用均很難獲(huo)得(de)(de)一致的(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)測信(xin)號(hao)。圖3-7中左邊的(de)(de)粗(cu)線段(duan)為線檢(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)頭(tou)(tou)，中間的(de)(de)細線段(duan)為不(bu)同位(wei)置的(de)(de)線狀(zhuang)缺(que)陷(xian)，右邊為不(bu)同探(tan)(tan)頭(tou)(tou)的(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)測信(xin)號(hao)幅(fu)度。為實(shi)現線檢(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)頭(tou)(tou)的(de)(de)一致性檢(jian)(jian)(jian)測，有如下兩種做法：
①. 減(jian)小(xiao)線檢探(tan)(tan)頭的(de)有效長度，讓它小(xiao)于或等于線狀缺陷長度的(de)一半，同(tong)時將相鄰檢測(ce)探(tan)(tan)頭按(an)50％重疊(die)布置，如(ru)圖3-7b所示。可以(yi)看出，不論(lun)缺陷從(cong)哪(na)個路徑通過(guo)探(tan)(tan)頭陣列，均可在某一檢測(ce)單元中(zhong)獲得(de)一個最大的(de)信號幅值(zhi)，而在其他(ta)檢測(ce)單元中(zhong)得(de)到較小(xiao)的(de)信號幅值(zhi)。
此時(shi)，由于(yu)線狀(zhuang)缺陷(xian)長(chang)度遠大于(yu)探(tan)頭長(chang)度，檢測(ce)探(tan)頭測(ce)量的(de)是漏磁場“山脈”中(zhong)的(de)某一段，如(ru)果線狀(zhuang)缺陷(xian)深度一致，它可以直(zhi)接反映出深度信(xin)息。將(jiang)線檢探(tan)頭的(de)長(chang)度再不(bu)斷(duan)縮小，線檢探(tan)頭則變成點檢探(tan)頭。此時(shi)，在(zai)采用標準人工缺陷(xian)進行設備標定時(shi)，任何狀(zhuang)態均可得(de)到一致的(de)檢測(ce)信(xin)號(hao)。
②. 增加線檢探頭的有效長度，使它超過線狀缺陷長度的2倍以上，同時將相鄰檢測探頭按50％重疊布置，如圖3-7c所示。這樣，以任何路徑掃查缺陷時，均可獲得至少一個最大的檢測信號幅值。
此種檢測方法測量的(de)(de)(de)是線(xian)(xian)狀(zhuang)缺陷的(de)(de)(de)平(ping)均磁(ci)感應強度(du)(du)(du)，因(yin)而，它反映不了線(xian)(xian)狀(zhuang)缺陷的(de)(de)(de)深度(du)(du)(du)信(xin)息。當缺陷的(de)(de)(de)長度(du)(du)(du)逐漸減(jian)小時，則轉(zhuan)變成線(xian)(xian)檢探頭對點狀(zhuang)缺陷的(de)(de)(de)檢測。
3. 面(mian)向對象(xiang)的檢測(ce)探頭設計和選用(yong)
在漏磁檢測(ce)中(zhong)，應該根據具(ju)體的檢測(ce)要求(qiu)來設(she)計和選擇合(he)適的探(tan)頭芯(xin)結構，下面給出幾種(zhong)探(tan)頭設(she)計和選用(yong)原(yuan)則(ze)。
a. 缺(que)(que)陷的(de)(de)深(shen)度(du)檢(jian)(jian)測(ce)應該選擇點(dian)檢(jian)(jian)探頭(tou) 點(dian)檢(jian)(jian)探頭(tou)反映的(de)(de)是(shi)局部磁感應強(qiang)度(du)或其變化。當(dang)裂紋較長時，測(ce)點(dian)相當(dang)于(yu)對無限長矩形槽的(de)(de)探測(ce)，因而(er)，測(ce)點(dian)的(de)(de)信號(hao)幅度(du)與缺(que)(que)陷深(shen)度(du)密(mi)切相關。但是(shi)，當(dang)線(xian)狀(zhuang)缺(que)(que)陷越來越短時，測(ce)量的(de)(de)誤(wu)差也就越來越大，特別地，對點(dian)狀(zhuang)缺(que)(que)陷的(de)(de)深(shen)度(du)探測(ce)幾(ji)乎不可能。
在(zai)鋼管(guan)漏(lou)磁(ci)檢測校樣(yang)過(guo)程中，一般均以通(tong)孔(kong)(kong)作為(wei)(wei)標定試樣(yang)上的(de)標準缺陷，這樣(yang)，大、小(xiao)孔(kong)(kong)的(de)深(shen)(shen)度一致，孔(kong)(kong)徑尺(chi)寸(cun)反映出缺失截面積的(de)線(xian)性變(bian)化(hua)，因而，漏(lou)磁(ci)磁(ci)通(tong)量(liang)也(ye)將(jiang)發(fa)生(sheng)線(xian)性變(bian)化(hua)。對于不(bu)通(tong)孔(kong)(kong)，當(dang)孔(kong)(kong)的(de)深(shen)(shen)度和直徑均為(wei)(wei)變(bian)量(liang)時，僅通(tong)過(guo)尋找(zhao)孔(kong)(kong)深(shen)(shen)與孔(kong)(kong)徑的(de)乘積與信號幅度關(guan)系去反演(yan)或推算深(shen)(shen)度是不(bu)可能的(de)。這也(ye)是僅采用漏(lou)磁(ci)方法進(jin)行(xing)檢測的(de)不(bu)足。
b. 缺陷(xian)的(de)(de)損(sun)失截面積檢(jian)測應該選擇(ze)線檢(jian)探(tan)頭 線檢(jian)探(tan)頭的(de)(de)信號幅度與(yu)缺陷(xian)損(sun)失的(de)(de)截面積成(cheng)比例，因而有較好(hao)的(de)(de)測量(liang)精度。在有些檢(jian)測對象中應用較好(hao)。
c. 缺陷(xian)的(de)長(chang)(chang)度(du)(du)(du)檢(jian)測應該用(yong)(yong)點(dian)(dian)(dian)檢(jian)探(tan)頭(tou)(tou)陣列(lie)或(huo)點(dian)(dian)(dian)線組合式探(tan)頭(tou)(tou) 點(dian)(dian)(dian)檢(jian)探(tan)頭(tou)(tou)敏感(gan)(gan)于缺陷(xian)的(de)深度(du)(du)(du)，當(dang)采(cai)用(yong)(yong)點(dian)(dian)(dian)檢(jian)探(tan)頭(tou)(tou)陣列(lie)時，缺陷(xian)長(chang)(chang)度(du)(du)(du)覆蓋的(de)通道(dao)數量可(ke)以反(fan)映其長(chang)(chang)度(du)(du)(du)信(xin)(xin)息；另一方面，當(dang)線檢(jian)探(tan)頭(tou)(tou)大于缺陷(xian)的(de)長(chang)(chang)度(du)(du)(du)時，感(gan)(gan)應的(de)是深度(du)(du)(du)和長(chang)(chang)度(du)(du)(du)的(de)共(gong)同信(xin)(xin)息，如在其感(gan)(gan)應范圍內并列(lie)布置一個或(huo)多個點(dian)(dian)(dian)檢(jian)探(tan)頭(tou)(tou)感(gan)(gan)受深度(du)(du)(du)信(xin)(xin)息，則裂紋的(de)長(chang)(chang)度(du)(du)(du)就可(ke)以計算出(chu)來(lai)。
從信號處理角(jiao)度來看，點線組合式探頭需要的(de)(de)通道數(shu)量較(jiao)少，可以同時獲得缺陷(xian)的(de)(de)深度、長度、缺失截面積等信息，具有(you)較(jiao)強的(de)(de)應用價值(zhi)。
d. 斜(xie)向(xiang)裂紋(wen)采用(yong)點(dian)檢探頭陣列檢測(ce)(ce) 在漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)檢測(ce)(ce)中(zhong)，當缺陷(xian)走向(xiang)與(yu)磁(ci)(ci)(ci)化場(chang)方向(xiang)不垂直時，漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)場(chang)的(de)強度將降(jiang)低，從而獲得(de)較小的(de)信號(hao)幅(fu)值。因此(ci)，斜(xie)向(xiang)缺陷(xian)的(de)檢測(ce)(ce)與(yu)評估，需要(yao)首先檢測(ce)(ce)出裂紋(wen)的(de)走向(xiang)，并(bing)且根據走向(xiang)修正漏(lou)磁(ci)(ci)(ci)場(chang)信號(hao)幅(fu)度，再進行(xing)深(shen)度判(pan)別。
另一方(fang)面(mian)，當探頭(tou)(tou)掃查路徑垂直(zhi)于缺(que)陷走向(xiang)時，檢(jian)測信(xin)號(hao)(hao)幅(fu)(fu)值(zhi)最大；隨著兩者夾角不斷減小，檢(jian)測信(xin)號(hao)(hao)幅(fu)(fu)值(zhi)逐漸(jian)降低，同時信(xin)號(hao)(hao)特性也將(jiang)發生(sheng)明顯變化。此時，線(xian)檢(jian)探頭(tou)(tou)的(de)檢(jian)測信(xin)號(hao)(hao)特性變化很大，點檢(jian)探頭(tou)(tou)的(de)信(xin)號(hao)(hao)幅(fu)(fu)度(du)波(bo)動(dong)卻(que)很小。因此，可利用點檢(jian)探頭(tou)(tou)陣列(lie)中(zhong)各(ge)通(tong)道獲(huo)得最大幅(fu)(fu)值(zhi)的(de)時間差異來推算缺(que)陷走向(xiang)，為后續的(de)信(xin)號(hao)(hao)補償與缺(que)陷判(pan)別奠定基礎，如圖3-8所示。
漏磁設備(bei)的(de)檢(jian)(jian)測(ce)能力與探頭芯(xin)結構密切相關，從目前應用情況來看(kan)，漏磁檢(jian)(jian)測(ce)方(fang)(fang)法(fa)對內(nei)外(wai)部腐蝕坑、內(nei)外(wai)部周(zhou)／軸向裂(lie)紋(wen)均(jun)有較(jiao)好的(de)檢(jian)(jian)測(ce)精度(du)，同時，對斜向裂(lie)紋(wen)具有一定的(de)檢(jian)(jian)測(ce)能力。但(dan)是(shi)，漏磁檢(jian)(jian)測(ce)方(fang)(fang)法(fa)對微(wei)裂(lie)紋(wen)，如初期的(de)疲勞裂(lie)紋(wen)、熱處理的(de)應力裂(lie)紋(wen)、軋制時的(de)微(wei)機械裂(lie)紋(wen)和(he)折疊不太敏(min)感。究(jiu)其原因(yin)，微(wei)裂(lie)紋(wen)的(de)開口均(jun)小(xiao)于0.05mm，漏磁場(chang)強度(du)較(jiao)低(di)，因(yin)此，有必(bi)要輔以渦流、超聲(sheng)等其他檢(jian)(jian)測(ce)方(fang)(fang)法(fa)。
我國進口漏磁檢(jian)測(ce)設備采用的(de)基(ji)本都(dou)是基(ji)于線(xian)圈的(de)線(xian)檢(jian)探(tan)頭，這種配置需要(yao)的(de)信號通(tong)道數量(liang)相對(dui)較少、探(tan)靴的(de)有(you)效覆蓋范(fan)圍大(da)。但是，這種方式(shi)對(dui)缺(que)陷的(de)深度(du)評定需要(yao)一定的(de)輔助條件，而且對(dui)斜向缺(que)陷的(de)檢(jian)測(ce)靈敏度(du)較低。
在具體(ti)應用過程中，首先(xian)應分析檢測(ce)(ce)(ce)要求(qiu)和(he)對象特點(dian)，其次要認識探(tan)頭芯的(de)形式和(he)結(jie)構(gou)。總的(de)來(lai)講，采用線檢探(tan)頭去檢測(ce)(ce)(ce)線狀(zhuang)缺陷的(de)深(shen)度(du)信(xin)(xin)息和(he)采用點(dian)檢探(tan)頭去評定點(dian)狀(zhuang)缺陷的(de)長度(du)信(xin)(xin)息均是不現實的(de)；高精度(du)的(de)檢測(ce)(ce)(ce)需要以大量(liang)的(de)獨立(li)測(ce)(ce)(ce)量(liang)通道和(he)信(xin)(xin)號處理系統為代(dai)價，因此，應根據檢測(ce)(ce)(ce)目標綜合權衡(heng)。
